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簡要描述：SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數(shù)： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-01-29訪 問 量：2030產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
|---|
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000
品牌： 華科智源
名稱： SIC動態(tài)參數(shù)測試儀
型號： HUSTEC-3000
用途： SIC器件，MOS管， IGBT測試
功能及主要參數(shù)：
適用碳化硅二極管、IGBT模塊\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
主要技術(shù)參數(shù)：
IGBT開關(guān)特性測試
開關(guān)時間測試條件
Ic：50A～1000A Vce：200V～2000V
Vgs：-10V～＋20V Rg：1R～100R可調(diào)(可選擇4檔及外接)
負(fù) 載：感性負(fù)載阻性負(fù)載可切換
電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH
電阻范圍：0.5R、1R、2R、4R
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000參數(shù)
開通延遲td(on): 20nS -10uS
上升時間tr: 20nS -10uS
開通能量Eon： 0.1-1000mJ
關(guān)斷延遲時間td(off)：20 nS -10uS
下降時間 tf： 20nS -10uS
關(guān)斷能量Eoff：0.1-1000mJ
二極管反向恢復(fù)特性測試
FRD測試條件：正向電流IF：50A～1000A；反向電壓 Vr：200V~2000V；-di/dt：100A/us～10000A/us ；負(fù)載：感性負(fù)載可選
電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH
FRD測試參數(shù)
反向恢復(fù)時間trr：20nS -2uS
反向恢復(fù)電荷Qc：10nC~10uC；
反向恢復(fù)電流Irm：50A~1000A
反向恢復(fù)損耗Erec：0.1mJ～1000mJ
產(chǎn)品優(yōu)勢
國內(nèi)能對二極管、IGBT模塊、MOS管等器件的時間參數(shù)實施測試的設(shè)備。
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