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簡要描述：JXA-iSP100電子探針顯微分析儀JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更優(yōu)良的一體化EPMA。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-05-06訪 問 量：584詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣 |
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng)，EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀
1. [Setting]
自動(dòng)定位，準(zhǔn)確安裝樣品臺(tái)！迅速找到想觀察的點(diǎn)！
進(jìn)樣和獲取樣品臺(tái)導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。
2. [Analysis]
充分的自動(dòng)功能，誰都可以拍到高級(jí)的SEM像！
繁瑣的設(shè)定也能對(duì)應(yīng)，EPMA立馬進(jìn)行元素分析！
光學(xué)顯微鏡的自動(dòng)聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動(dòng)功能相結(jié)合，任誰都可以拍到高級(jí)的SEM像。
通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析，初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定；用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時(shí)間。
SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過WD/ED integration，分析時(shí)間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
3. [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品，有效進(jìn)行校正！
配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時(shí)的人為失誤；利用夜間對(duì)儀器進(jìn)行校正，提高了工作效率。
按照【維護(hù)通知功能】，在必要時(shí)期對(duì)儀器進(jìn)行自我維護(hù)，保持設(shè)備優(yōu)良狀態(tài)。
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