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ST2500EX是高性能數模混合信號測試系統，支持1024數字通道配置。該系統硬件結構采用Direct Docking連接方式，可以兼容J Type針卡，降低客戶轉平臺治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴展性，可搭載無線綜測儀、RF測試模塊及各類高性價比解決方案。
ST2500EX高性能數模混合信號測試系統可以廣泛應用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導體晶圓、器件測試和模塊系統級測試。
SOC/MCU
FLASH
EEPORM
CIS
Bluetooth/WiFi
LED Driver
FPGA
Sensor
系統支持250Mbps/500Mbps（差分、500mV）數據速率
單機頭最高可配置32塊板卡，用戶可以根據測試需求靈活配置板卡
可以兼容J Type針卡，降低客戶轉平臺治具成本
提供配套公用loadboard，可以縮短客戶產品硬件開發周期
系統采用Direct Docking連接方式，增加晶圓測試穩定性
系統集成ST-IDE軟件提供用戶友好的開發環境，豐富的開發和調試工具 (AWG、DGT、Pattern、LA等)，降低產品開發調試到量產交付生產周期
配套豐富的pattern轉換工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件轉換為測試機pattern，同時支持友商平臺pattern轉換，有效提高調試效率
針對工廠量產提供專門GUI，數據實現顯示監控，提供豐富的數據記錄分析工具，支持定制化工廠系統連接方案，方便批量測試和對接工廠管理系統
智能軟硬件監控系統，提供故障代碼，精確定位軟硬件故障位置
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