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聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開(kāi)發(fā)的。

聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)TO6201-LIV是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO LIV，光譜測(cè)試機(jī)臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)8x8老化夾具，主要功能和參數(shù)指標(biāo)包括： ? 支持TO的LIV掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算. ? 支持中心波長(zhǎng)和SMSR測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）

聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測(cè)試，詳細(xì)功能包括： - 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算和算法選擇 - 支持中心波長(zhǎng)和SMSR 測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）. - 支持LIV 和光譜并行測(cè)試

聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO 標(biāo)準(zhǔn)老化系統(tǒng)，主要功能和特點(diǎn)包括：。 - 雙溫區(qū)，每個(gè)溫區(qū)可以獨(dú)立老化不同產(chǎn)品 - 大容量，每個(gè)溫區(qū)支持1536 顆TO 的老化，共支持3072 顆TO 的老化 - 軟件切換引腳定義，針對(duì)目前行業(yè)內(nèi)不同的引腳封裝通過(guò)軟件切換實(shí)現(xiàn) - 兼容小電流VCSEL TO 的老化和大電流FP/DFB TO 的老化

容測(cè)EA-I16汽車(chē)電源故障模擬器EA-I16 線(xiàn)束微中斷模擬器(汽車(chē)電源故障模擬器)電源線(xiàn)信號(hào)線(xiàn)二合一設(shè)計(jì)，應(yīng)用于汽車(chē)線(xiàn)束微中斷測(cè)試，輸出波形，最小支持1us中斷試驗(yàn)。

容測(cè)ES-608射頻傳導(dǎo)干擾模擬測(cè)試系統(tǒng)有非常高效的注入效率，耦合去耦合網(wǎng)絡(luò)、電磁鉗、電流鉗法均支持10V測(cè)試要求，廣泛用于醫(yī)療、電力、工業(yè)控制、新能源充電樁、通訊等行業(yè)。符合IEC61000-4-6、GB/T17626.6、CISPR 35標(biāo)準(zhǔn)要求。

輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)NSG4070C-80測(cè)試系統(tǒng)是AMETEK CTS 是汽車(chē)EMC測(cè)試各個(gè)部分解決方案的供應(yīng)商：充電系統(tǒng)12/24/48V 電池系統(tǒng)和輻射抗擾度測(cè)試。與我們討論我們?nèi)绾螏椭乱淮?chē)的制造商遵守各種標(biāo)準(zhǔn)，以及對(duì)電氣和電子組件和系統(tǒng)的影響。了解有關(guān)汽車(chē)標(biāo)準(zhǔn)的更多信息。傳導(dǎo)和射傳導(dǎo)射頻抗擾度測(cè)試設(shè)備IEC61000-4-3輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)。

FT電池強(qiáng)制放電系統(tǒng)，是根據(jù)UN38.3標(biāo)準(zhǔn)以及IEC62133 -2:2017中對(duì)于強(qiáng)制放電部分的測(cè)試要求定制開(kāi)發(fā)的一套測(cè)試系統(tǒng)，主要用于評(píng)估可充電電池及電芯承受強(qiáng)制放電狀況的能力。 為方便用戶(hù)使用，本系統(tǒng)將測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)置于上位機(jī)軟件中，用戶(hù)只需輸入電池容量和放電電流即可開(kāi)始測(cè)試。上位機(jī)實(shí)時(shí)顯示、記錄電池放電過(guò)程中電壓、電流、溫度等參數(shù)?？刹樵?xún)和導(dǎo)出任意一時(shí)段放電曲線(xiàn)和數(shù)據(jù)。